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ケミルミネッセンスアナライザー

弊社CLAシステムをお使いのお客様よりご提供頂きました測定データをPDFファイルにて公開しております。
ご希望の項目を選択してご参考にしてください。また、これ以外にもCLAシステムによる各種測定データがございます。ご希望の方は直接弊社までお問合せ下さい。

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今後見込まれる分野 結晶化度、素材評価、表面分析

化学発光検出は固体試料の場合、結晶あるいは粉末のいずれの状態でも計測できることから、 半導体分野における素材評価に応用できます。 特に、半導体の素材であるシリコンやガラス、ダイヤモンドなどの評価が出来ます。また、化合物半導体など の分野でも基板の特性を調べることができます。
半導体素材からのフォトン放出過程には結晶格子の捕捉された 自由電子と電子空孔、素材表面に生成している酸化物などが関係することが知られています。そのため、 電子の流入や放出は熱や紫外線照射による励起で観測されます。半導体素材への応用としてはアモルファスシリコン、 シリコン酸化膜、アモルファスダイヤモンド、ナノチューブなどに存在する電子空孔、自由電子、酸化物、 一酸化窒素などの計測が可能で、これらの示す微弱発光を指標として、材料評価や品質保証などのシステム管理ができます。
※ ファイル名をクリックするとPDFファイルが開きます

ファイル名 <その他 表題>
cloj2014_001 一重項酸素
cloj2014_002 過酸化水素
cloj2014_003 半導体材料(酸化チタン)の結晶欠陥量及び結晶化度の測定
cloj2014_004 キャビテーションエネルギーの測定 ※お問合せください
cloj2014_005 抗酸化力測定(TRAP ASSAY法)
cloj2014_006 薬の酸化劣化評価 ※お問合せください
cloj2014_007 TRAP Assay (抗酸化活性評価法)
cloj2014_008 Lucigenineの発光スペクトル ※お問合せください

cloj2014_002_m1 CLA-IMGで測定した動画
  • 発光試薬のルミノールに過酸化水素を滴下した時の発光画像です。過酸化水素が滴下された瞬間に発光が広がる様子を見ることができます。
  • cloj2014_007_m1 CLA-IMGで測定した動画
  • cloj2014-007(CCDカメラによるイメージング測定)で取得した画像を動画にしたものです。
    測定の詳細は「cloj2014-007」を参照ください。
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